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事業案内
■蛍光X線分析
概要
蛍光Ｘ線分析とは、試料表面にＸ線を照射することにより、励起された軌道上の電子が外部にたたき出され、その空位に、より外側の軌道にある電子が遷移するときに放出する固有Ｘ線(蛍光Ｘ線)を分析する手法です。
固有Ｘ線の波長(エネルギー)は、励起される元素に特有で、その波長(エネルギー)から定性分析、強度から定量分析が行えます。
仕様
| 使用機器 | ㈱島津製作所製 EDX-8000 |
|---|---|
| 測定項目 | 定性定量(FP法)、異物分析、スクリーニング分析 |
| 試料室 | 試料サイズ 250 mm×300 mm×100 mm程度 (試料室が閉まる大きさ) |
| 大気雰囲気 | 測定範囲：15P～92U 制限事項：15P以下の軽元素は真空雰囲気下での測定を推奨 |
| 真空雰囲気 | 測定範囲：9F～92U 制限事項：真空下で気化する成分を含む試料は測定不可 試料容器を用いる粉末等は20Ca以下の軽元素は感度低下 |
| 測定径 | φ0.3 mm、φ1 mm、φ3 mm、φ10 mm |
| 深さ (参考) |
金属は数十 μm、軽元素(樹脂)試料なら数 mmからの蛍光X線を測定 ※正確にはマトリックスと元素種で異なる。 |
| 検出下限 (参考) |
0.01 ％～数 ％ マトリックスや測定元素により変化、軽元素は低感度 |
測定例
概要：フィルム中に含まれる異物について、測定範囲φ10 mmでは異物成分が不明瞭でしたが、
測定範囲をφ0.3 mmに絞ることで異物成分(Al、Cr、Fe)が明瞭に検出されました。
概要：名刺の青印字について元素分析を行いました。青印字部分からはトナー由来と
推定される３元素(Si、Ti、Cu)が検出されました。